Das 19. EE-Kolleg fand vom 16.-20. März 2016 statt und widmete sich dem Themenschwerpunkt "VALIDIERUNG VON PROZESSEN".

Der US-amerikanische Physiker und Pionier des Qualitätsmanagements, William Edwards Deming (1900 – 1993), hat einmal gesagt: “Der Prozess ist nicht nur die Summe der einzelnen Tätigkeiten; wir sollten an den Prozessen selbst, und nicht am Resultat der Prozesse arbeiten." Es ging also darum, sich zu vergewissern, zu kontrollieren und final zu bestätigen, dass der jeweilige Elektronik-Fertigungsprozess in der Lage ist, die geforderte Produktqualität reproduzierbar im praktischen Einsatz zu erfüllen.

Das 19. EE-Kolleg hat den Prozessen seine Aufmerksamkeit gewidmet und einige interessante Vorträge zu verschiedenen Aufbau- und Verbindungstechnologien präsentiert.

Das angenehme Ambiente des Tagungsortes eröffnete den Teilnehmern die Möglichkeit zum ausgedehnten Erfahrungsaustausch im Teilnehmerkreis sowie mit den Referenten und Geschäftspartnern/Veranstaltern des Kollegs, den Firmen  ASM Assembly Systems GmbH & Co. KG,  ASYS Group  Asys Automatisierungssysteme GmbH, Balver Zinn Josef Jost GmbH & Co. KG, Christian Koenen GmbH, kolb Cleaning Technology GmbH, Rehm Thermal Systems GmbH und Zevac AG.

Das inhaltliche Angebot richtete sich an Fach- und Führungskräfte aus der Produktion sowie an Mitarbeiter der Arbeitsvorbereitung, der Technologie, der Entwicklung, der Konstruktion und des Qualitätsmanagements.

Programm
16. bis 20. März 2016

08:15
Einschreiben der Teilnehmer
Dauer: 0:45
09:00
Eröffnung und Einführung
Referent: Dr. Hans Bell, Rehm Thermal Systems GmbH, Blaubeuren
Dauer: 0:15
09:15
Charakterisierungsmethoden für die Prozessvalidierung in der Elektronikfertigung
Referent: Prof.-Dr.-Ing. habil. Thomas Zerna, Technische Universität Dresden, Institut für Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik, Dresden
Dauer: 0:45
10:00
Schrauben im Montageprozess – Prozessoptimierung
Referent: Alois Mahr, Zollner Elektronik AG, Zandt
Dauer: 0:45
10:45
Pause
Dauer: 0:30
11:15
Warum jammern alle über die Leiterplattenqualität?
Referent: Dr.-Ing. Thomas Ahrens, Trainalytics GmbH, Lippstadt
Dauer: 0:45
12:00
EMV-gerechtes Leiterplattendesign
Referent: Björn Jereczek, NXP Semiconductors, Germany GmbH, Hamburg
Dauer: 0:45
12:45
Lunch
Dauer: 1:00
13:45
Gedruckte Elektronik – Anforderungen und Prozesse
Referent: Werner Fink, ELMERIC GmbH, Rangendingen
Dauer: 0:45
14:30
Energiewende – Herausforderungen und Rolle der Energiespeicher
Referent: Dr. Wolfram Krause, Younicos AG, Berlin
Dauer: 0:45
15:15
Pause
Dauer: 0:30
15:45
Meeresforschung – Messsysteme und -elektronik unter Druck
Referent: Dr. Frank Wenzhöfer, Alfred-Wegener-Institut, Helmholtz-Zentrum für Polar- und Meeresforschung, Bremerhaven
Dauer: 1:00
16:45
Ende
09:00
Design for Manufacturing – Potenzial durch Standardisierung
Referent: Klaus Weßing, Gigaset Communications GmbH, Bocholt
Dauer: 0:45
09:45
Prozessvalidierung Selektiv- und Wellenlöten
Referent: Andreas Stark, Tonfunk GmbH Ermsleben, Falkenstein/Harz
Dauer: 0:45
10:30
Pause
Dauer: 0:30
11:00
Traceability mit Bordmitteln
Referent: Michael Schlegel, Smyczek GmbH, Verl
Dauer: 0:45
11:45
Datenbanken - Wer überwacht die Überwacher?
Referent: Esra Daniel Stoll, Basler AG, Ahrensburg
Dauer: 0:45
12:30
Lunch
Dauer: 1:00
13:30
Anforderungen an Einpressverbindungen
Referent: Thorsten Schmidt, Hella KGaA Hueck & Co, Lippstadt
Dauer: 0:45
14:15
LED anschaulich – wenn weiß nicht gleich weiß ist
Referent: Karl Weinhold, feno GmbH, Oberhaching
Dauer: 0:45
15:00
Pause
Dauer: 0:30
15:30
Expertenrunde: Wir fragen - wir antworten Fragen zum Fertigungsalltag, zum Design, zu den Materialien und Prozessen mit
Referent: Günter Grossmann, EMPA, Dübendorf (CH)
Dauer: 1:00
16:30
Schlusswort
Dauer: 0:15
16:45
Ende
10:00
Ergänzende Begleitveranstaltung nach Wahl